旋转式半导体封装推拉力测试机TEST4500
- 分类：新闻资讯
- 作者：特斯精密
- 来源：www.gdtsjm.com
- 发布时间：2023-06-01
- 访问量：0
【概要描述】适用于半导体IC封装推拉力测试：晶片推力测试、金球推力测试、金线拉力测试
旋转式半导体封装推拉力测试机TEST4500
【概要描述】适用于半导体IC封装推拉力测试：晶片推力测试、金球推力测试、金线拉力测试
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TEST4500半导体封装推拉力测试机是一种高精度、高效率的测试设备,适用于对半导体封装产品进行推力和拉力测试,以验证其物理性能指标。
该设备具有多功能自动切换的特点,包括自动识别推力和拉力,自动选择测试模式和速度,以及高速力值采集系统。
TEST4500配置旋转模组,可以更加准确地测量产品的变形和位移情况。软件控制自动选择对应推力和拉力,可以实现测试数据的自动处理和存储,提高测试效率和精度。
此外,该设备采用高精度的传感器和测量仪器,可以更稳定地采集力量数据,确保测试结果的准确性和可靠性。
半导体封装推拉力测试机具有高精度、高效率、高稳定性和高可靠性的特点,可以广泛应用于半导体封装产品的生产和检测领域,为产品的质量和安全提供有力的保障。
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