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旋转式推拉力测试机TEST4500

特斯精密TEST系列推拉力测试机TEST4500采用全自动化设计模式,具备多功能,可装配多个模块。测试方法:
1.封装晶片与基板胶水粘接力测试。
2.封装测试金球剪切力测试。
3.封装金线键合拉力测试。
4.半导体IC封装推拉力测试。
5.光通讯TO封装推拉力测试。
6.大功率封装推拉力测试。
7.各类LED封装推拉力测试。
8.其他推力测试、拉力测试、剪切力测试、拉拔力测试。
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产品编号
TEST4500
所属分类
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产品描述

旋转式推拉力测试机TEST4500

一、技术优势:
1.旋转式模组:
在软件选择测试工位后,系统5s自动旋转至对应工作位,更好提升了测试的效率及便捷性,减少手工更换模块的繁琐性。

2.AST自动变档技术:
在软件是点击切换测试模组,设备自动切换到测试模块,无需人为手工干预,避免人为切换模组引起的故障以及推/拉针损坏。

3.动态采集系统24Bit:
全量程采用自主研发高精度(24Bit超高分辨率)数据采集系统,测试数据更加精准;经过专业检测机构测试和认证,综合测试精度达国标±0.25%,最高可做到±0.1%以内。

4.VPT垂直定位技术:
根据测试产品需求自由输入剪切高度,精准度高达微米级;具有动作快、接触力轻、剪切高度准、无偏移的优点,确保推力模块精准定位。

5.VTT垂直牵引技术:
拉力测试过程中主力轴不倾斜,是保证测试数据精准的必要条件;确保拉力测试模块彻底消除在测试时,主力轴倾斜后分力对测试结果的误差。

6.ICT智能兼容技术:
不同主机之间可互换测试模块,且不损耗精度,保证了同一测试模块在不同主机上工作时测试数据的可靠性、以及一致性。

7.智能LED灯光系统:
当设备空闲状况下,照明灯光自动熄灭,人员操作时,LED照明灯自动开启;LED灯光亮度可调节,减少光源对视力的损伤、疲劳。

8.智能防呆滞功能:
每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统,触底触边时设备自动停止并提醒测试人员。

9.自动化测试:
点击测试按钮,设备自动测试,无须人为干预,避免人为操作引起的数据偏差。

 

 

二、设备参数:

 

 

 

三、应用范围
推拉力试验机应用:
1、可进行各种推拉力测试:金球、锡球、芯片、导线、焊接点等
2、zui大测试负载力达200kg
3、独立模组可自由添加任意测试模组:
4、强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表等功能
5、 X 和 Z 轴可同时移动使拉力角度保持*
6、 程式化自动测试功能

拉力测试
● 金/铝线拉力测试
● 非破坏性拉力测试(无损拉克)
● 铝带拉力测试
● 非垂直(任何角度)拉力测试
● 夹金/铝线拉力测试
● 夹元件拉力测试
● 薄膜/镀膜/芯片/组件 垂直拉力测试
● 引脚疲劳拉力测试

下压测试(Z轴垂直推力)
● 非破坏性测试
● 弯曲及压断测试
● 引脚疲劳下压测试

推力测试
● 推金/铝线测试
● 非破坏性推力测试(无损拉克)
● 锡/金球推力测试
● 锡球整列推力测试
● 锡球矩阵推力测试
● 芯片推力测试
● 铝带推力测试

剥离测试
● 铝带剥离测试
● 非破坏性拉力测试(无损拉克)

滚动式测试
● 晶圆耐压测试
● 陶瓷耐压测试

距离测量
● 弧高量测
● 3D高度映射
● 任意距离测量
● 探针式测高
● 3轴距离测量


四、测试模组
在软件是点击切换测试模组,设备自动切换到测试模块,无需人为手工干预,避免人为切换模组引起的故障以及推/拉针损坏

 

 

关键词:
芯片剪切力测试机
芯片推力测试机
晶片推力测试
晶片剪切力测试
金球推力测试机
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发布时间:2022-09-23 11:45:19